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BILLERICA, Massachusetts (USA) – 20. August 2009 – Das Patentamt Japan (JPO) hat unlängst beschlossen das japanische Patent (3 076 013) für Spektrometer-Systeme mit ATR-Bildgebung (abgeschwächter Totalreflexion), aufzuheben.

 

BRUKER Optics konnte das Patent (3 076 013) erfolgreich anfechten, das bisher der vormals unter „Digilab“ bekannten GmbH, jetzt Teil der Varian AG, zugeteilt war. Die Aufhebung dieses Patents erlaubt nun der Bruker Optics Japan und anderen Herstellern FT-IR-Spektrometer für bildgebende Messungen (Imaging-Systeme) und FT-IR-Mikroskopsysteme mit der zusätzlichen Funktionalität der ATR-Bildgebung an Kunden in Japan zu verkaufen.

 

Die Infrarot-Mikroskopie ist eine leistungsstarke Technik für die chemische Analyse von kleinflächigen Proben. Zu den typischen Anwendungen zählen die Identifizierung von Verunreinigungen, Defekten und Inhomogenitäten auf verschiedensten Materialoberflächen, angefangen von Polymeren bis hin zu Arzneimitteln. Solche Analysen haben zum Ziel die Verteilung einer molekularen oder funktionellen Gruppe auf der Probe zu erkennen, was mit der Aufnahme von vielen individuellen Infrarot-Spektren möglich ist. Die erhaltenen Spektren zeigen ein chemisches Bild, das wertvolle Informationen über die vollständig analysierte Probe liefert.

 

Mit den traditionellen Infrarot-Mikroskop-Systemen ist dieses Vorgehen allerdings sehr zeitaufwändig, da die Messungen nur sukzessive abgearbeitet werden können. Neueste Entwicklungen bei Infrarot-Spektrometern erlauben heute den Gebrauch von Multi-Element-Detektoren wie FPA - (focal plane array) und Zeilendetektoren (Line-Array-Detektoren), mit denen schnellstmöglich die chemische Zusammensetzung eines Probenareals erfasst werden kann. Die abgeschwächte Total-Reflexion (ATR) ist hierbei eine bewährte und sehr bekannte Infrarot-Messtechnik zur Analyse der Probenoberfläche. Durch die Kombination der abgeschwächten Totalreflexion mit der FT-IR-Bildgebungs-Technik erhält der Anwender somit eine schnelle und leistungsfähige Methode für viele analytische Fragestellungen.

 

Für weitere Informationen bezüglich des FT-IR-Bildgebungs-Mikroskops HYPERION 3000 der Bruker Optik, besuchen Sie bitte unsere Homepage: www.brukeroptics.com/hyperion3000